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KIA70N08 N沟道 MOSFET 70A /80V TO-220封装最新规格书 自行提供mos管定制.是一家专业从事中、大、功率场效应管(MOSFET)、快恢复二极管、三端稳压器开发设计、集研发、生产和销售为一体的国家高新技术企业。KIA半导体科技从2005-2018已经拥有独立研发中心,...
www.kiaic.com/article/detail/753.html 2018-03-23
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KIA1N60H N沟道 MOSFET 1A /600V TO-92、251、252封装最新规格书 自行提供mos管定制.是一家专业从事中、大、功率场效应管(MOSFET)、快恢复二极管、三端稳压器开发设计、集研发、生产和销售为一体的国家高新技术企业。KIA半导体科技从2005-2018已经拥有独立研...
www.kiaic.com/article/detail/752.html 2018-03-23
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MOS管定义MOS管学名是场效应管,是金属-氧化物-半导体型场效应管,属于绝缘栅型。其结构示意图:结构示意图解析1)沟道上面图中,下边的p型中间一个窄长条就是沟道,使得左右两块P型极连在一起,因此
www.kiaic.com/article/detail/423.html 2018-03-23
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详解,N沟道MOS管和P沟道MOS管先讲讲MOS/CMOS集成电路MOS集成电路特点:制造工艺比较简单、成品率较高、功耗低、组成的逻辑电路比较简单,集成度高、抗干扰能力强,特别适合于大规模集成电路。MOS集成电路包括:NMOS管组成的
www.kiaic.com/article/detail/424.html 2018-03-23
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封装对集成电路起着机械之策支撑和机械保护、环境保护;传输信号和分配电源,散热等作用。
www.kiaic.com/article/detail/426.html 2018-03-23
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Tc、Tch、TJ的含义略有差别,但在数值上一般是相同的。TSTG数值上一般也是和Tc相同的。TL在数值上一般是260一300℃之间的一个数值。TJ(Operating Junction Temperature,管芯工作温度),简称“结温”,也写作Tj。TJ是指产品内部的芯片连续工作时能够承受的温...
www.kiaic.com/article/detail/427.html 2018-03-23
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容易集成化TTL等双极器件中,如图10. 15所示,相邻的晶体管之间需求隔离,而且要提高电流驱动型器件的集成度,就很难抑止功率耗费和发热现象。CMOS中,由于闩锁现象/可控硅现象的缘由,需求思索设置恰当的别离寄生
www.kiaic.com/article/detail/428.html 2018-03-23
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KIA3400 N沟道 MOSFET 4.8A /30V SOT-23封装最新规格书 自行提供mos管定制.是一家专业从事中、大、功率场效应管(MOSFET)、快恢复二极管、三端稳压器开发设计、集研发、生产和销售为一体的国家高新技术企业。KIA半导体科技从2005-2018已经拥有独立研发中心,...
www.kiaic.com/article/detail/749.html 2018-03-23
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器件自身的失效普通来说,器件的失效率具有图14.1所示的倾向。反映这种倾向的曲线叫做澡盆曲线。澡盆曲线,如图所示能够分为早期失效、偶然失效、耗损失效三个阶段。1.早期失效制造厂家在器件出厂时要进行全数检查
www.kiaic.com/article/detail/431.html 2018-03-23
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MOSFET(Metal-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistor),金属氧化物半导体场效应晶体管,简称金氧半场效晶体管。是一种可以广泛使用在模拟电路与数字电路的场效晶体管(field-effecttransistor)。MOSFET依照其"通道"(工作载流子)的极性不同,可分...
www.kiaic.com/article/detail/434.html 2018-03-23
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CMOS的维护电路输入维护电路当器件加有过大的电压或电流时,器件会遭到损伤而导致性能劣化,严重时会被击穿。这时芯片上的布线或器件的分离局部将会被毁坏,或者与上下/左右相邻的布线或器件短路,以至于信号线开路或短路。
www.kiaic.com/article/detail/435.html 2018-03-23
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逻辑器件中,决定交接信号的规格是由作为DC电学特性的输入电压肯定的。输入电压存在两种规格:将输入断定为“L”的低电平输入电压(VIL),和输入断定为“H”的高电平输入电压(VIH)。逻辑器件是处置、传送2值逻辑的,所以信号处置必需可以判别“L”或者“H”(“...
www.kiaic.com/article/detail/437.html 2018-03-23
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①开路失效.②漏电流/短路失效.③特性劣化失效在器件制造中产生缘由。实践上要用电学实验的方法将器件的失效形式别离开是艰难的。即便①和②可以别离,①与③,②与③通常是同时发生的。
www.kiaic.com/article/detail/438.html 2018-03-23
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高电压向低电压变换的接口要点不是“L”/“H”的逻辑传输上的问题,而是在低的电压下流入接纳IC的输入部分的电流以及因此引起的器件损伤问题。在接纳IC的电源电压比发送lC的电源电压低的场所,如图13.18所示,经过IC②的输入维护电路产牛的稳定电流IIH会导致器...
www.kiaic.com/article/detail/448.html 2018-03-23